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Ultradünner Polarisationsfilter, 1310 nm, 25 mm Durchm., eine Seite AR

Ultra-Thin Polarizer, Circle

Ultra-Thin Polarizer, Circle

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Beschichtung:
Single-Side AR
Durchmesser (mm):
25.00 +0/-0.2
Auslöschungsverhältnis:
>10,000:1
Substrat: Many glass manufacturers offer the same material characteristics under different trade names. Learn More
Sodium Silicate Glass Doped with Silver Nanoparticles
Betriebstemperatur (°C):
-50 to +400
Oberflächenqualität:
40-20
Dicke (mm):
0.09 ± 0.025
Transmission (%):
>91
Beschichtungsspezifikation:
Not available
Wellenlängenbereich (nm):
1260 - 1360
Zerstörschwelle, laut Design: Damage threshold for optical components varies by substrate material and coating. Click here to learn more about this specification.
10 W/cm2
Akzeptanzwinkel (°):
± 20°
Transmittierter Wellenfrontfehler, RMS:
<3 λ

Konformität mit Standards

RoHS:
Konformitätszertifikat:

Beschreibung Produktfamilie

  • Leichtes Substrat mit nur 90 µm Dicke
  • Auslöschungsverhältnis 10.000:1
  • Hohe Resistenz gegenüber Chemikalien, Temperatur und rauen Umgebungen
  • Verschiedene Standardgrößen, Beschichtungen und kundenspezifische Versionen verfügbar

Die ultradünnen Polarisationsfilter mit Nanopartikeln sind eine sehr leichte und nur 90 µm dicke Alternative zu traditionellen Polarisationsfiltern. Sie bieten eine hohe Transmission und ein Auslöschungsverhältnis von >10.000:1. Die Polarisationsfilter sind aus Natriumsilikatglas gefertigt und mit länglichen Silber-Nanopartikeln dotiert. Die Filter haben eine hohe Temperaturstabilität bis zu +400°C, eine hohe chemische Resistenz sowie eine hohe Resistenz gegen UV-Strahlung und Ausbleichen. Die Polarisationsfilter sind unbeschichtet, mit AR-Beschichtung auf einer Seite oder AR-Beschichtung auf beiden Seiten verfügbar und decken Wellenlängenbereiche von 1260-1600 nm ab. Die ultradünnen Polarisationsfilter mit Nanopartikeln sind ideal für den Einsatz in der Telekommunikation, Medizintechnik oder in Raumfahrtanwendungen sowie als optischer Isolator, in der Polarisationsinterferometrie und zur Verbesserung des Signal-Rausch-Verhältnis.

 
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