Gain is factory set for optimum linear dynamic range, not user adjustable
Gamma:
1.00
Sensorformat:
2/3"
Betriebssystem:
Windows®
Rauschspitze (nW/cm2):
24 (at 632.8nm)
Spektralbereich:
300 - 1100nm (400 - 1100nm with LDFP)
Genauigkeit Größe:
±1% (typical), ±5% max (over entire spectral and dimensional range)
CW Sättigung:
5 mW/cm2 (at 632.8nm with LDFP)
Sättigung Puls:
0.15 mJ/cm2 (at 1.06μm with LDFP)
Pulstrigger:
TTL, rising or falling edge
Peakintensität:
Recommended: 75-95% of camera saturation
Zerstörschwelle, laut Design:
Damage threshold for optical components varies by substrate material and coating. Click here to learn more about this specification.
32 mJ/cm2 @ 1.06μm without Low Distortion Faceplate
1.280 x 1.024, CMOS Sensor mit 6,7 μm Pixelabstand
Intuitiv bedienbare Software inklusive
Das Strahlprofilmessgerät besticht mit einem exzellenten Signal-Rausch-Verhältnis und linearer Empfindlichkeit bei der Messung von Größe und Gleichmäßigkeit von gepulsten und CW Laserstrahlen. Die neue BeamView 4.4 Software bietet TCP/IP Steuerung und eine NI LabVIEW™ Datenbank und ermöglicht so die effiziente und einfache Integration der Strahlmessung in jede Anwendung. Mögliche Funktionen / Messungen: Lagebestimmung des Strahlschwerpunkts, Lage der Leistungsspitze des Stahls, Strahlstabilität, gesamte relative Leistung / Strahlenergie, Spitzenleistung / Spitzenenergiedichte des Strahls, Strahldivergenz, Elliptizität, Messung der Gleichmäßigkeit der Strahlintensität, Gauß’sche Passform, Strahldurchmesser / Breite nach dem D4Sigma-Verfahren oder vom Anwender wählbarem Prozentsatz von Spitzen- zu Gesamtenergie.
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