Name: Coherent® USB Strahlprofilmessgerät, 1/2" Sensorformat
Brand: Coherent®
SKU: 33-156
Price: €4.575,00

Coherent® USB Strahlprofilmessgerät, 1/2" Sensorformat

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Strahldurchmesser, 1/e² (mm):

Recommended: 0.15mm min, 4.0mm max

Mount:

C-Mount

Betriebstemperatur (°C):

-20 to 60

Sensorfläche, h x v (mm):

5.9 x 4.8

Größe (mm):

68.1 x 79.3 x 40.9 (with LDFP)

Gewicht (g):

110 (without cable)

Signal-Rausch-Verhältnis (dB):

>60

Verstärkung (dB):

Gain is factory set for optimum linear dynamic range, not user adjustable

Gamma:

1.00

Sensorformat:

1/2"

Betriebssystem:

Windows®

Rauschspitze (nW/cm²):

24 (at 632.8nm)

Spektralbereich:

300 - 1100nm (400 - 1100nm with LDFP)

Genauigkeit Größe:

±1% (typical), ±5% max (over entire spectral and dimensional range)

CW Sättigung:

13 mW/cm² (at 632.8nm with LDFP)

Sättigung Puls:

0.4 mJ/cm² (at 1.06μm with LDFP)

Pulstrigger:

TTL, rising or falling edge

Peakintensität:

Recommended: 75-95% of camera saturation

32 mJ/cm² @ 1.06μm without Low Distortion Faceplate

Bildrate:

27Hz (Live Mode), 10Hz (with calculations)

Belichtungszeit:

Fixed at 10ms

Konformität mit Standards

RoHS 2015:

Ausgenommen / Ausnahmeregelung

Reach 224:

Contains SVHC(s)

Konformitätszertifikat:

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Beschreibung Produktfamilie

Digitale 10-Bit USB 2.0 Schnittstelle
1.280 x 1.024, CMOS Sensor mit 6,7 μm Pixelabstand
Intuitiv bedienbare Software inklusive

Das Strahlprofilmessgerät besticht mit einem exzellenten Signal-Rausch-Verhältnis und linearer Empfindlichkeit bei der Messung von Größe und Gleichmäßigkeit von gepulsten und CW Laserstrahlen. Die neue BeamView 4.4 Software bietet TCP/IP Steuerung und eine NI LabVIEW™ Datenbank und ermöglicht so die effiziente und einfache Integration der Strahlmessung in jede Anwendung. Mögliche Funktionen / Messungen: Lagebestimmung des Strahlschwerpunkts, Lage der Leistungsspitze des Stahls, Strahlstabilität, gesamte relative Leistung / Strahlenergie, Spitzenleistung / Spitzenenergiedichte des Strahls, Strahldivergenz, Elliptizität, Messung der Gleichmäßigkeit der Strahlintensität, Gauß’sche Passform, Strahldurchmesser / Breite nach dem D4Sigma-Verfahren oder vom Anwender wählbarem Prozentsatz von Spitzen- zu Gesamtenergie.