Mikrometerchart zur Bildanalyse auf Opalglas mit NIST Zert.

Spezifikationen

Produktdetails

Hinweis:

Patterns on Test Plate 1, 2 and 8 are NIST traceable and conforms to ASTM-E112.

NIST-Zertifikat:

Yes

Physikalische und mechanische Eigenschaften

Skaleneinteilung:

0 to 2.5 inches

Einteilung:

0.5 inches

Größe (mm):

25.4 x 76.2

Dicke (mm):

1.50 ±0.100

Toleranz Größe (mm):

±0.100

Pattern Tolerance (μm):

±2 (±4 for Plate 1 Item #3 and #4)

Optische Eigenschaften

Substrat: Many glass manufacturers offer the same material characteristics under different trade names. Learn More

Chrome on Opal Glass

Konformität mit Standards

RoHS 2015:

Konform

Konformitätszertifikat:

Anzeigen

Reach 235:

Konform

Produktdetails

Entwickelt zur morphologischen Kalibrierung und Messung
8 Testbereiche mit verschiedenen Mustern
NIST-zertifizierte Versionen verfügbar

Mikrometercharts zur Bildanalyse sind ideal für die morphologische Kalibrierung und Vermessung von zweidimensionalen Formen geeignet. Sie bieten acht Testbereiche mit Kreisen, Quadraten, Linien und anderen Formen in verschiedenen Größen. Kleine Muster mit Durchmessern bis 6,25 µm sind ideal für die Bildanalyse und Bildverarbeitungssysteme, wohingegen größere Muster wie z.B. eine 2,5“ lange lineare Skala und ein Kreis mit 0,5“ Durchmesser für die Makro-Inspektion genutzt werden können. Die Nummern 1-4 beziehen sich auf die oberen Testmuster und die Nummern 5-8 auf die unteren, jeweils von links nach rechts. Es sind NIST-zertifizierte Versionen der Charts verfügbar, die konform zu den ASTM-E112 Anforderungen sind und bei denen die Muster 1, 2 und 8 vermessen und kalibriert sind.

Technische Informationen


Plate	Frame Size	Description
1	4.6 x 3.5mm	Circles with 2.00, 1.00, 0.50, and 0.25mm diameter
2	1.0 x 0.8mm	Circles with 0.500, 0.250, 0.125, 0.0625mm diameter
3	1.0 x 0.8mm	7 bars separated by 30°, 0.200 x 0.020mm
4	1.0 x 0.8mm	Various circles, bars, and angular features
5	1.0 x 0.8mm	Squares of 0.100, 0.040, 0.020mm (2 sets)
6	2.05 x 1.65mm	Grid with 0.050mm lines at 0.100mm pitch
7	4.2 x 3.4mm	Grid with 0.200mm lines at 0.200mm pitch
8	10mm long	Scale with 0.010mm divisions

Zubehör

Passende Produkte

Auswahl-Assistent für Objektive

Häufig zusammen gekauft

Tipps & Downloads

Filter

Wavelength and f#

This demonstration exemplifies why wavelength and f/# can drastically affect the performance of imaging systems and should not be overlooked.

View Now

What is a video micrometer?

View Now

What is the cycle length of a Metric Ronchi Ruling?

View Now

Objektivtypen, Auflösung und Sensorabdeckung

Nick Sischka von Edmund Optics erklärt, welches Bildverarbeitungsobjektiv zu welchem Sensor passt und welche Kompromisse eingegangen werden müssen.

View Now

Axial and Lateral Chromatic Aberration

Chromatic aberrations impact the performance of imaging systems in many different ways, as exemplified in this hands-on demonstration.

View Now

Best Practice #6 There Can Be Only One

Join Nick Sischka, Director of Imaging, as he reviews some best practices to consider when designing an imaging system.

View Now

Tests und Testbilder

Verschiedene Testbildtypen und ihre idealen Anwendungen sowie Vorteile, Einschränkungen, Gleichungen und Beispiele. Mehr Infos bei Edmund Optics!

View Now

Choosing the Correct Test Target

Do you have a question about test targets? Find out how to choose the correct test target for your system along with application examples at Edmund Optics.

View Now