Name: 4" Kugel, universelles Ulbrichtkugel-System
SKU: 58-585
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4" Kugel, universelles Ulbrichtkugel-System

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Beschichtung:

Spectraflect®

Gewinde:

¼-20

Hinweis:

Included Accessories:
SMA Adapters: #89-652 (x2)
Port Plugs: #89-651 (x1)
Port Frame Reducer: #89-650 (x1)
Port Reducer: #89-648 (x1)

Durchmesser (Zoll):

0° Eingangsdurchmesser (Zoll):

1.50

Eingang 2 Durchmesser (Inch):

1.00

Eingang 3 Durchmesser (Inch):

1.00

Eingangsrandverkleinerer-Durchmesser (Inch):

1.00 - 0.50

Eingangsabdeckungsdurchmesser (Inch):

1.00

Eingangsöffnungsverkleinerer-Durchmesser (Inch):

1.50 - 1.00

SMA-Adapter-Durchmesser (Inch):

1.00

1.7 J/cm²

Thermal Stability:

Up to 160°C

Konformität mit Standards

RoHS 2015:

Konform

Reach 209:

Konform

Konformitätszertifikat:

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Beschreibung Produktfamilie

Ideal zur Messung von Lichtquellen
Aufrüstung zur Kalibrierung von Sensoren und zur Prüfung von Linsen möglich
Einfache Systemintegration

Die universellen Ulbrichtkugel-Systeme erlauben die räumliche Integration eines Strahlungsflusses, um optische Strahlung zu vermessen. Die Kugeln können mit Sensoren zu einem Radiometer, Fotometer oder Spektroradiometer kombiniert werden und den gesamten geometrischen Strahlungsfluss messen, der von einer Lichtquelle ausgeht, oder die Strahlungsflussdichte einer beleuchteten Fläche. Außerdem eignen sich diese Kugelsysteme zur Messung der Ausgangsleistung von Hochleistungslasern und Laserdioden bzw. zur Messung der Reflexion und Transmission von Materialien.

Zur Modifikation bzw. Erweiterung der Eigenschaften des Systems steht diverses Zubehör zur Verfügung, beispielsweise Verschlusskappen, Reduzierstücke und gleichförmige Lichtquellen. Gleichförmige Lichtquellen eignen sich ideal für zahlreiche Strahlungsanwendungen, beispielsweise zur Ermittlung der Empfindlichkeit, Linearität, der Inhomogenität der Fotoreaktion und zur Ermittlung des dynamischen Bereichs von FPA-Detektoren. Außerdem können diese Lichtquellen zur gleichmäßigen Ausleuchtung von Testcharts zur Bestimmung des CTF-Werts optischer Systeme oder Objektive sowie zur Messung des Cosinus-4-Strahlungsabfalls oder anderer Strahlungsabweichungen in optischen Systemen aufgrund optischer Aberrationen verwendet werden.