Sub-angstrom surface roughness metrology with the white light interferometer"
Shawn Iles and Jayson Nelson
SPIE
11/15/2019 5:00:00 AM
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11175/1117519/Sub-angstrom-surface-roughness-metrology-with-the-white-light-interferometer/10.1117/12.2536683.full
weitere regionale Telefonnummern
ANGEBOTSTOOL
Geben Sie zum Starten die Produktnummer ein.
Copyright 2023 | Edmund Optics Inc. vertreten durch Edmund Optics GmbH, Isaac-Fulda-Allee 5, 55124 Mainz, Deutschland
Die Edmund Optics GmbH Deutschland fungiert als Handelsvermittler für die Edmund Optics Ltd. in Großbritannien.
Vertragspartner ist die Edmund Optics Ltd. in Großbritannien.