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Mikrometer mit Linien und Punkten

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  • Neue Version aus Opalglas verfügbar
  • Kalibrierung von Pixeldithering
  • Linien und Punkte von 2 μm bis 100 μm

Die Mikrometer mit Linien und Punkten auf Objektträgern wurde zur Kalibrierung von bildverarbeitenden Systemen in anspruchsvollen Anwendungen entwickelt. Das Muster enthält Punkte und Linien in den Größen 2 μm, 3 μm, 4 μm, 5 μm, 6 μm, 7 μm, 8 μm, 9 μm, 10 μm, 25 μm, 50 μm, 75 μm und 100 μm. Kalibrierungen mit diesem Mikrometer können Ditheringeffekte in bildgebenden Prozessen und Algorithmen verringern. Das Testmuster ist als Chrom auf Glas oder Chrom auf weißem Opalglas verfügbar.

Spezifikationen

Skaleneinteilung:
2μm, 3μm, 4μm, 5μm, 6μm, 7μm, 8μm, 9μm, 10μm, 25μm, 50μm, 75μm, 100μm
Größe (mm):
25.4 x 76.2
Dicke (mm):
1.50 ±0.100
Toleranz Größe (mm):
±0.100

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Mikrometer mit Linien und Punkten, Standard
Mikrometer mit Linien und Punkten aus Opalglas, Standard
Mikrometer mit Linien und Punkten, NIST zertifiziert
Mikrometer mit Linien und Punkten aus Opalglas, NIST zertifiziert
 
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