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Testcharts für die Mikroskopie

Kundenspezifische Fertigung
und Serienfertigung

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Testcharts in Objektträgerform für hochauflösende Mikroskopie Testcharts in Objektträgerform für hochauflösende Mikroskopie Neu
  • Kleine Testmuster – 100 nm und 3.300 lp/mm
  • Herstellung durch hochgenaue Elektronenstrahl-Lithographie
  • Negative Muster
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - konzentrische Kreise Retikel für Durchlichtbeleuchtung - konzentrische Kreise
  • Designed for 1X Objective Power
  • Concentric Circle Pattern
  • B270 Substrate
Retikel für Durchlichtbeleuchtung mit Mikrometerskala - Fadenkreuz Retikel für Durchlichtbeleuchtung mit Mikrometerskala - Fadenkreuz
  • Designed for 1X Objective Power
  • 5 or 10mm Scale
  • 1.5mm Thickness
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Fadenkreuz Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Fadenkreuz
  • Designed for 1X Objective Power
  • Crossline Pattern
  • 19 or 21mm Diameter Versions
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - horizontale Mikrometerskala Retikel für Durchlichtbeleuchtung - horizontale Mikrometerskala
  • Designed for 1X Objective Power
  • 1, 5, or 10mm Scale Versions
  • 0.1 or 0.5 Inch Scale Versions
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - beschriftetes Gitter Retikel für Durchlichtbeleuchtung - beschriftetes Gitter
  • Designed for 1X Objective Power
  • Indexed Grid Pattern
  • 19 or 21mm Diameter Reticles
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gitternetz Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gitternetz
  • Designed for 1X Objective Power
  • Net Grid Squares over Entire Field
  • 19 or 21mm Diameter Versions
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gradbogen Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gradbogen
  • Bieten eine stabile Plattform für Experimente und Testkonfigurationen
  • 1/4-20 TPI- oder M6-Gewindebohrungen für vielseitige Montagemöglichkeiten verfügbar
  • Schwarz eloxiertes Aluminium
Mikrometer zur Kalibrierung von Strichplatten Mikrometer zur Kalibrierung von Strichplatten
  • Features a Series of "H" Shaped Fiducial Images
  • Image Sizes from 0.1 to 20mm
  • Available with NIST Traceable Data
Mikrometerplättchen Mikrometerplättchen
  • Reticle Scales Centered on Microscope Slides
  • Designed for Routine Calibration
  • 1 x 3" Slide Sizes

Testcharts für die Mikroskopie dienen zur Messung der Genauigkeit und der Leistung eines Systems bei Bildverarbeitungs- und Mikroskopieanwendungen. Die Testcharts verwenden die verschiedensten Muster, beispielsweise ein Strichgitter oder einen Siemensstern zur Messung der Systemauflösung. Die meisten Testcharts sind für die industrielle Bildverarbeitung entwickelt worden, Testcharts für die Mikroskopie dagegen ausschließlich für Messungen und Anwendungen in der Mikroskopie.

Edmund Optics bietet Testcharts zur Bestimmung der Verzeichnung für die hochauflösende Mikroskopie an. Diese hochauflösenden Testcharts sind für Mikroskopiesysteme mit hohen Vergrößerungen geeignet und haben die Abmessungen eines konventionellen Mikroskop-Objektträgers.

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